Россия
В статье рассматривается современное состояние электронно-компонентной базы космического назначения, проблемы ее создания, виды космического излучения, виды отказов работы микросхем. Проанализированы особенности развития современных средств автоматизации проектирования элементной базы космического назначения с учетом воздействия космического излучения.
САПР, микропроцессоры, СБИС, космическое воздействие, низкоинтенсивное ионизирующее излучение, процессы моделирования и проектирования, радиационно-стойкие микросхемы.
1. Зольников, В. К. Разработка математических моделей расчета радиационной стойкости параметров типовых элементов и определение адекватности схемотехнических и конструктивно технологических решений / В. К. Зольников, В. П. Крюков, В. Н. Ачкасов, В. А. Смерек // Моделирование систем и процессов. – 2011. – № 1-2. – С. 24-26.
2. Зольников, К. В. Метод и алгоритм поиска дефектов для радиационно-стойких микросхем / К. В. Зольников, В. А. Скляр, В. П. Крюков, А. В. Ачкасов, В. И. Анциферова, С. А. Евдокимова. // Вопросы атомной науки и техники. Серия: Физика радиационного воздействия на радиоэлектронную апаратуру. – 2014. – № 2. – С. 10-13.
3. Скляр, В. А. Обзор средств САПР для субмикронных СБИС / В. А. Скляр, К. В. Зольников, И. В. Нагорный, В. В. Лавлинский // Моделирование систем и процессов. – 2012. – № 1. – С. 60-64.
4. Зольников, К. В. Обзор программ для САПР субмикронных СБИС / К. В. Зольников, В. А. Скляр, В. В. Лавлинский, С. А. Евдокимова, В. И. Анциферова // Моделирование систем и процессов. – 2013. – № 2. – С. 72-76.
5. Скляр, В. А. Проектирование и испытания микросхем для систем сбора и обработки информации / В. А. Скляр, А. В. Ачкасов, К. В. Зольников // Радиотехника. – 2014. – № 6. – С. 94-98.
6. Потапов, И. П. Средства автоматизации проектирования радиационно-стойкой элементной базы / И. П. Потапов, А. В. Ачкасов, В. К. Зольников // Вопросы атомной науки и техники. Серия: Физика радиационного воздействия на радиоэлектронную аппаратуру. –2006. – № 1-2. – С. 147-148.
7. Ачкасов, А. В. Создание отечественной проектной среды разработки микроэлектронных систем / А. В. Ачкасов, А. И. Яньков // Приводная техника. – 2006. –№ 5. – С. 28-30.
8. Ачкасов, В. Н. Методика определения стойкости изделий микроэлектроники / В. Н. Ачкасов // Интеллектуальные информационные системы : сб. науч. тр. – Воронеж : ВГТУ, 2006. – С. 29-30.
9. Обоснование структуры АРМ проектирования базовых элементов микросхем двойного назначения / В. Н. Ачкасов, П. Р. Машевич, Ю. К. Фортинский, В. Е. Межов, В. К. Зольников // Математическое моделирование, компьютерная оптимизация технологий, параметров оборудования и систем управления: межвузовский сборник научных трудов. – Вып. Х. – Воронеж: ВГЛТА, 2005. – С. 215-216.
10. Подсистема автоматизации проектирования радиационно-стойкой элементной базы и унифицированных модулей вычислительных комплексов бортовых систем управления / В. Н. Ачкасов, В. М. Антимиров, П. Р. Машевич. Ю. К. Фортинский // Интеллектуальные информационные системы : сб. науч. тр. – Воронеж : ВГТУ, 2005. – С. 45-46.
11. Ачкасов, В. Н. Средства автоматизации проектирования радиационно-стойкой элементной базы и унифицированных модулей вычислительных комплексов бортовых систем управления / В. Н. Ачкасов, В. М. Антимиров, П. Р. Машевич // Материалы Российской конференции «Стойкость-2005». – Москва: МИФИ,2005. – С. 251
12. Pease, R. L. ELDRS in bipolar linear circuits: a review / R. L. Pease, R. D. Schrimpf, D. M. Fleetwood // IEEE Trans. Nucl. Sci. – 2009. – Vol. 56, № 6. – P. 1894–1908.
13. Согоян, А. В. Особенности пост радиационных релаксационных процессов в КНС ИС / А. В. Согоян, Г. Г. Давыдов // Радиационная стойкость электронных систем. – 2005. – Вып. 8. – С. 49-50.
