%0 Journal Article
%T Моделирование влияния электромагнитных полей на микросхемы
%A Полуэктов, А.В.
%A Медведев, Р.Ю.
%A Зольников, К.В.
%K моделирование, компьютерное моделирование, модель, С#, микросхема, электромагнитные поля, КМОП полупроводники, радиационные эффекты, экранирование, снижение мощности, частоты излучения, компенсация воздействия, коэффициент затухания, эффективность экранирования.
%J Моделирование систем и процессов
%D 2024
%N 17
%P 7
%I Воронежский государственный лесотехнический университет имени Г.Ф. Морозова